パーキンエルマージャパンは、特許技術「UCT」(ユニバーサルセルテクノロジー)により、分析者のスキルに依存せず、誰でも簡単に高感度で精確な測定が可能になったICP質量分析装置NexION350シリーズなどの最新技術資料などの企業展示と、NexION 350によるナノ粒子分析を主題としたランチョンセミナーに参加します。
◆展示
【日にち】
2015年5月23日(土) 9時30分~17時
2015年5月24日(日) 9時30分~15時
【場所】
山梨大学甲府キャンパス(討論会場内)
【展示内容】
NexION350シリーズなどの最新技術資料、ポスターおよびカタログ
◆ランチョンセミナー
【日にち】
2015年5月23日(土) 12時~12時50分
【場所】
山梨大学甲府キャンパス 総合研究棟(Y号館)討論会場内【A 会場】
【演題】
ICP-MSの最新アプリケーション・NexION 350によるナノ粒子分析
~ナノ粒子のサイズと粒度分布を測る~
【演者】
株式会社パーキンエルマージャパン EH分析事業部 小林 恭子
※第75回分析化学討論会
http://conference.wdc-jp.com/jsac/touron/75/
※NexION ICP質量分析装置の製品案内ページはこちら
http://www.perkinelmer.co.jp/icpms/tabid/628/Default.aspx
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本件に関するお問合せ先:株式会社パーキンエルマージャパン
◆お客様
TEL:045-339-5861(EH分析事業部)
◆メディア関連の方
TEL:045-339-5865 (マーケティング&コミュニケーションズ部)
◆展示
【日にち】
2015年5月23日(土) 9時30分~17時
2015年5月24日(日) 9時30分~15時
【場所】
山梨大学甲府キャンパス(討論会場内)
【展示内容】
NexION350シリーズなどの最新技術資料、ポスターおよびカタログ
◆ランチョンセミナー
【日にち】
2015年5月23日(土) 12時~12時50分
【場所】
山梨大学甲府キャンパス 総合研究棟(Y号館)討論会場内【A 会場】
【演題】
ICP-MSの最新アプリケーション・NexION 350によるナノ粒子分析
~ナノ粒子のサイズと粒度分布を測る~
【演者】
株式会社パーキンエルマージャパン EH分析事業部 小林 恭子
※第75回分析化学討論会
http://conference.wdc-jp.com/jsac/touron/75/
※NexION ICP質量分析装置の製品案内ページはこちら
http://www.perkinelmer.co.jp/icpms/tabid/628/Default.aspx
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本件に関するお問合せ先:株式会社パーキンエルマージャパン
◆お客様
TEL:045-339-5861(EH分析事業部)
◆メディア関連の方
TEL:045-339-5865 (マーケティング&コミュニケーションズ部)