このテストは、ＮＦＣモバイルの内部の仕組みとして、非接触型フロントエンド（ ＣＬＦ ）とＳＩＭカード（ＵＩＣＣ）の間で行われるシングル・ワイヤ・プロトコル（ＳＷＰ）の一部のテスト仕様です。ＳＷＰには、ＳＨＤＬＣおよびＨＣＩというレイヤがあり、ＳＨＤＬおよびＨＣＩレイヤ部分の最新仕様が以下の通りです。
HCI-1 : 102-695-1 v9.3.0 （2013-12）
HCI-3 : 102-695-3 v9.2.0 （2013-09）
HDLC : 102-694-1 v9.5.0 （2013-12）
これらの最新の仕様に基づいて、テスト仕様に応じたテストスクリプト化されております。実際のテスト環境は、テスト対象のCLFボードやＮＦＣモバイル端末に対して、非接触部分は、PCDテストアンテナと非接触型エミュレータを準備しています。テスト対象がもつ接触部分のＳＩＭソケットに対して、ＳＩＭケーブルを差し込み、接触型エミュレータと接続します。これらの２つのエミュレータは、ＷｉｎｄｏｗｓＰＣと接続をして、非接触型エミュレータ、テスト対象、接触型エミュレータ間のテスト項目に応じて、自動的に仮想環境を構築することが可能です。そして、エミュレータの自動コントロールと検証テストプログラムのテスト開始、テストレポート作成ができるに仕組みとなっています。また、テストスクリプトは、自由にカスタムロジックを入れたプログラム修正追加もできる仕組みとなっています。
ＥＳＴＩ準拠ＣＬＦ版ＳＨＤＬＣおよびＨＣＩの最新版テストベンチのデモやご説明が必要な場合、ポジティブワンまでご相談ください。
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